Logofătu, Petre C.: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (38)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

Phase-Modulation Scatterometry

Logofătu, Petre C.

Журнал:

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 775 KB

english, 2002

2

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Proceedings - (Sunday 12 February 2012)] - Rigorous coupled-wave analysis for two-dimensional gratings

Logofătu, Petre Cătălin, Iancu, Ovidiu, Manea, Adrian, Schiopu, Paul, Cojoc, Dan

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 589 KB

english, 2012

3

Precise interferometric length measurement using real-time fringe fitting

Bogdan Ioniţă, Petre Cătălin Logofătu, Dan Apostol

Журнал:

Optik - International Journal for Light and Electron Optics

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 362 KB

english, 2011

4

Sensitivity Analysis of Grating Parameter Estimation

Logofătu, Petre C.

Журнал:

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 336 KB

english, 2002

5

Identity of the cross-reflection coefficients for symmetric surface-relief gratings

Logofătu, Petre C., Coulombe, Stephen A., Minhas, Babar K., McNeil, John R.

Журнал:

Journal of the Optical Society of America A

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 373 KB

english, 1999

6

PZT calibration

Florin Ionita, Bogdan, Garoi, Florin, Logofatu, Petre Catalin, Apostol, Dan

Журнал:

Optik - International Journal for Light and Electron Optics

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 936 KB

english, 2013

7

SPIE Proceedings [SPIE ROMOPTP '94: 4th Conference on Optics - Bucharest, Romania (Monday 5 September 1994)] ROMOPTO '94: Fourth Conference in Optics - Large angle measurement by interferometry

Apostol, Dan, Blanaru, Constantin, Damian, Victor S., Logofatu, Petre-Catalin, Tumbar, R., Dobroiu, Adrian, Vlad, Valentin I.

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 224 KB

english, 1995

8

Fully statistical approach for regression analysis

Petre Cătălin Logofătu, Dan Apostol

Журнал:

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 195 KB

english, 2008

9

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies - Constanta, Romania (Thursday 26 August 2010)] Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies V - Preliminary ellipsometric studies and tests for measuring the birefringence of electro-optic materials

Logofătu, Petre Cătălin, Udrea, Cristian, Ion, Valentin, Scărişoreanu, Nicu Doinel, Műller, Raluca, Schiopu, Paul, Caruntu, George

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 438 KB

english, 2010

10

Abelès method revisited

Logofatu, Petre C., Apostol, Dan, Damian, Victor, Iordache, Iuliana M., Bojan, Mihaela M., Müller, Raluca

Журнал:

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 264 KB

english, 2006

11

Fast computation algorithm for the Rayleigh-Sommerfeld diffraction formula using a type of scaled convolution

Nascov, Victor, Logofătu, Petre Cătălin

Журнал:

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 751 KB

english, 2009

12

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies 2014 - Constanta, Romania (Thursday 21 August 2014)] Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies VII - Terahertz range complex refractive index determinations for liquids using ATR

Cristea, Ionica, Vladescu, Marian, Tamas, Razvan, Dobroiu, Adrian, Logofătu, Petre C.

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 591 KB

english, 2015

13

SPIE Proceedings [SPIE 26th Annual International Symposium on Microlithography - Santa Clara, CA (Sunday 25 February 2001)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XV - Measurement precision of optical scatterometry

Logofatu, Petre-Catalin, McNeil, John R., Sullivan, Neal T.

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 223 KB

english, 2001

14

SPIE Proceedings [SPIE Microlithography '99 - Santa Clara, CA (Sunday 14 March 1999)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XIII - Sensitivity analysis of fitting for scatterometry

Logofatu, Petre-Catalin, McNeil, John R., Singh, Bhanwar

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 313 KB

english, 1999

15

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies - Constanta, Romania (Thursday 26 August 2010)] Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies V - Fast diffraction computation algorithms based on FFT

Logofatu, Petre Catalin, Nascov, Victor, Apostol, Dan, Schiopu, Paul, Caruntu, George

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 246 KB

english, 2010

16

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies 2014 - Constanta, Romania (Thursday 21 August 2014)] Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies VII - Physical Fourier encoding and compacting of optical data

Cristea, Ionica, Vladescu, Marian, Tamas, Razvan, Logofatu, Petre C., Garoi, Florin, Damian, Victor, Udrea, Cristian

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 521 KB

english, 2015

17

SPIE Proceedings [SPIE Microlithography 2003 - Santa Clara, CA (Sunday 23 February 2003)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVII - UV scatterometry

Logofatu, Petre Catalin, Herr, Daniel J.

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 357 KB

english, 2003

18

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies 2014 - Constanta, Romania (Thursday 21 August 2014)] Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies VII - L1 minimization applied to two sparse signals that can be described as sums of elementary functions

Cristea, Ionica, Vladescu, Marian, Tamas, Razvan, Logofătu, Petre C.

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 272 KB

english, 2015

19

SPIE Proceedings [SPIE ROMOPTP '94: 4th Conference on Optics - Bucharest, Romania (Monday 5 September 1994)] ROMOPTO '94: Fourth Conference in Optics - Refractometry by reflectometry

Apostol, Dan, Ciura, Alexandru I., Damian, Victor S., Logofatu, Petre-Catalin, Stoica, Mihaela, Tumbar, R., Vlad, Valentin I.

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 375 KB

english, 1995

20

SPIE Proceedings [SPIE ROMOPTP '94: 4th Conference on Optics - Bucharest, Romania (Monday 5 September 1994)] ROMOPTO '94: Fourth Conference in Optics - Interferometric angular transducers

Apostol, Dan, Damian, Victor S., Logofatu, Petre-Catalin, Tumbar, R., Dobroiu, Adrian, Vlad, Valentin I.

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 255 KB

english, 1995

21

SPIE Proceedings [SPIE SPIE's International Symposium on Optical Science, Engineering, and Instrumentation - San Diego, CA (Sunday 19 July 1998)] Scattering and Surface Roughness II - Application of optical scatterometry to microelectronics and flat panel display processing

McNeil, John R., Coulombe, Stephen A., Logofatu, Petre-Catalin, Raymond, Christopher J., Naqvi, S. Sohail H., Collins, George J., Gu, Zu-Han, Maradudin, Alexei A.

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 855 KB

english, 1998

22

SPIE Proceedings [SPIE 23rd Annual International Symposium on Microlithography - Santa Clara, CA (Sunday 22 February 1998)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XII - Ellipsometric scatterometry for sub-0.1-μm CD measurements

Coulombe, Stephen A., Logofatu, Petre-Catalin, Minhas, Babar K., Naqvi, S. Sohail H., McNeil, John R., Singh, Bhanwar

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.34 MB

english, 1998

23

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies IV - Constanta, Romania (Thursday 28 August 2008)] Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies IV - Diffraction experiments with the spatial light modulator: the boundary between physical and digital optics

Logofatu, Petre Catalin, Sima, Adrian, Apostol, Dan, Schiopu, Paul, Panait, Cornel, Caruntu, George, Manea, Adrian

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 434 KB

english, 2009

24

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Proceedings - (Sunday 12 February 2012)] - Enhancements of the AbelÃÂ©s method for refractive index determination

Logofatu, Petre C., Iordache, Iuliana M., Bojan, Mihaela M., Iancu, Ovidiu, Manea, Adrian, Schiopu, Paul

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 185 KB

english, 2012

25

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies 2012 - Constanta, Romania (Thursday 23 August 2012)] Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies VI - Sampling theorem: the cornerstone of discrete optics

Logofatu, Petre C., Nascov, Victor, Schiopu, Paul, Tamas, Razvan

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 371 KB

english, 2012

26

SPIE Proceedings [SPIE Optical Metrology - Munich, Germany (Monday 18 June 2007)] Modeling Aspects in Optical Metrology - Structure modeling for scatterometric characterization of photoinduced surface-relief gratings

Logofatu, Petre C., Apostol, Ileana, Castex, Marie-Claude, Damian, Victor, Iordache, Iuliana, Bojan, Mihaela, Apostol, Dan, Bosse, Harald, Bodermann, Bernd, Silver, Richard M.

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 465 KB

english, 2007

27

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies 2012 - Constanta, Romania (Thursday 23 August 2012)] Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies VI - Phase-shifting interferometry with a reflective diffraction grating for adaptive optics

Garoi, F., Logofatu, Petre C., Apostol, D., Udrea, C., Schiopu, Paul, Tamas, Razvan

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 595 KB

english, 2012

28

SPIE Proceedings [SPIE 26th Annual International Symposium on Microlithography - Santa Clara, CA (Sunday 25 February 2001)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XV - Scatterometry: a metrology for subwavelength surface-relief gratings

Logofatu, Petre-Catalin, McNeil, John R., Sullivan, Neal T.

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 462 KB

english, 2001

29

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Proceedings - (Sunday 12 February 2012)] - Statistical processing of Newton's rings fringe pattern using the Fresnel transform

Nascov, Victor, Apostol, Dan, Garoi, Florin, Damian, Victor, lordache, luliana, Logofãtu, Petre Cãtãlin, Denisyuk, Yury, Sainov, Ventseslav, Stoykova, Elena

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 181 KB

english, 2012

30

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Proceedings - (Sunday 12 February 2012)] - Fourier transform digital holography

Apostol, Dan, Sima, Adrian, Logofătu, Petre C., Garoi, Florin, Damian, Victor, Nascov, Victor, Iordache, Iuliana, Vlad, Valentin I.

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.29 MB

english, 2012

31

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Proceedings - (Sunday 12 February 2012)] - Interferogram analysis for flatness metrology

Nascov, Victor, Timcu, Adrian, Apostol, Dan, Garoi, Florin, Damian, Victor, Iordache, Iuliana, Logofătu, Petre Cătălin, Iancu, Ovidiu, Manea, Adrian, Schiopu, Paul, Cojoc, Dan

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 696 KB

english, 2012

32

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Proceedings - (Sunday 12 February 2012)] - Static Fourier transform lambdameter

Apostol, Dan, Sima, Adrian, Logofătu, Petre C., Garoi, Florin, Damian, Victor, Nascov, Victor, Iordache, Iuliana, Vlad, Valentin I.

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 369 KB

english, 2012

33

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies 2016 - Constanta, Romania (Thursday 25 August 2016)] Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies VIII - Real-time digital holographic interferometry set-up for phase gradient study in dynamic phase objects using spatial modulator

Vladescu, Marian, Tamas, Razvan, Cristea, Ionica, Sima, Adrian, Schiopu, Paul, Logofatu, Petre C.

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.32 MB

english, 2016

34

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies 2016 - Constanta, Romania (Thursday 25 August 2016)] Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies VIII - Assessment of illumination conditions in a single-pixel imaging configuration

Vladescu, Marian, Tamas, Razvan, Cristea, Ionica, Garoi, Florin, Udrea, Cristian, Damian, Cristian, Logofătu, Petre C., Colţuc, Daniela

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 556 KB

english, 2016

35

[IEEE 2017 9th International Conference on Electronics, Computers and Artificial Intelligence (ECAI) - Targoviste (2017.6.29-2017.7.1)] 2017 9th International Conference on Electronics, Computers and Artificial Intelligence (ECAI) - Real-time digital holographic interferometric measurement of diffusive objects displacements using spatial light modulator

Sima, Adrian, Schiopu, Paul, Logofatu, Petre Catalin

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.86 MB

english, 2017

36

Super resolution terahertz imaging by subpixel estimation: application to hyperspectral beam profiling

Logofatu, Petre, Damian, Victor

Журнал:

Journal of Optics (IOPscience)

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 474 KB

english, 2018

37

Snapshot interferometric multispectral imaging using deconvolution and colorimetric fit

Logofătu, Petre Cătălin, Damian, Victor

Журнал:

Optics & Laser Technology

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.13 MB

english, 2019

38

Fabrication, Characterization and Analysis of Concentrically Strained Silicon Nanowires With Extremely-High Hole Mobility

Sharma, Ashwani K., Huang, Danhong, Vaughan, Erin, Logofatu, Petre C., Rotter, Thomas J., Naudeau, Madeleine L.

Журнал:

IEEE Journal of Quantum Electronics

Рік:

2020

Файл:

PDF, 3.07 MB

2020